由于產品技術升級,此型號已經停產,請用戶見諒!
替代型號為: TM608高精度膜厚監測儀
用途和特點
該款膜厚監測儀為沈陽賽恩斯有限公司研發和制造。它主要是用于真空設備在蒸發、
磁控濺射、直流濺射等鍍膜過程中, 動態地監測膜層的幾何厚度、沉積速率等參數的專用
儀器。該款監測儀具有同步檢測通道多,測量數據準確、穩定、一致性好、顯示直觀、操
作方便等特點。本款監測儀可以很方便地通過鍵盤或串口對測量門控時間、材料、速率算
法、比例因子等進行設置。測量周期可在0.1-1 秒間進行選擇,以適應高精度或高速率的
不同需求。監測過程中可以通過串口實時地對設備實時進行數據采集、啟動、停止等控
制,為遠程監測和鍍膜控制提供了方便。本款監測儀還配有與速率成正比的0-10V 的同步
輸出,為用戶對鍍膜速率的監視和和控制提供了方便,膜厚監控儀采用插卡式結構,可選
配成2 通道,4 通道,6 通道和8 通道。串口可以根據用戶的要求選配232、485 等不同協
議的接口。
產品特點:
1、超高精度測量。采用自有知識產權的高精度測頻技術,頻率測量分辨率:0.002Hz/s。
2、插卡式結構: 采用插卡式結構,可插入4塊測量卡(2通道/卡)、輸出輸出卡、電源卡等, 方便維護與升級。
3、具有模擬量輸出接口,通過調節儀可對鍍膜源進行控制,構建鍍膜速率閉環控制系統,對鍍膜速率進行精確控制。
4、界面友好易操作。采用藍背光大屏幕液晶顯示,大鍵盤操作。
5、擋板控制。6路開關量輸出,可外接源擋板,可對擋板進行控制。
6、計算機控制: 可直接連接計算機使用,由計算機控制和顯示,并可將測量數據導入Excel表。 隨機提供計算機測試軟件。一臺計算機可接多臺膜厚儀。
注:本產品最新升級改進型號為:TM606A
技術指標
晶體頻率: 6MHz(新晶體)~5MHz
頻率分辯率: 0.002Hz
膜厚分辯率: 0.0088?(鋁)
膜厚準確度: 0.5%典型,取決于過程條件,特別是傳感器的位置,材料應力,溫度和密度
頻率測量精度: 0.01Hz
膜厚測量精度: 0.01?
速率測量精度 0.01?/S
測量速率: 1~10次/S
測量通道數量: 6通道
標配探頭一只
用戶界面: 5.1英寸藍背光LCD顯示器,全功能數字鍵盤
計算機通訊: RS232或RS485
最大外型尺寸: 483×133 ×260mm(寬×高×深)
用戶手冊:
/kindeditor-4.0-beta/attached/file/20150426/20150426155332_5636.zip